=?windows-1257?Q?OPOMNIK:_IJS_KOLOKVIJ=2C_sreda=2C_27._11._2013; _ob_13._u?= ri; prof. dr. Miran Čeh

[Barbara Hrovatin]

Vabimo vas na 4. predavanje iz sklopa "Kolokviji na IJS" v letu 2013/14, ki
bo v sredo, 27. novembra 2013, ob 13. uri v Veliki predavalnici Instituta
»Jožef Stefan«  na Jamovi cesti 39 v Ljubljani. Napovednik predavanja
najdete tudi na naslovu http://www.ijs.si/ijsw/Koledar_prireditev, posnetke
preteklih predavanj pa na http://videolectures.net/kolokviji_ijs. 

~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~

prof. dr. Miran Čeh

Odsek za nanostrukturne materiale, Center za elektronsko mikroskopijo -
Institut Jožef Stefan, Ljubljana, Slovenija

 

Vrstična presevna elektronska mikroskopija: Uporaba v vedah o materialih

 

Na področju karakterizacije materialov na nanoskopski in atomski ravni so se
v zadnjem času trdno uveljavile različne tehnike slikanja z vrstičnim
presevnim elektronskim mikroskopom (scanning transmission electron
microscopy, STEM), ki jih poznamo pod kraticami ADF, HAADF in ABF. Eden
izmed razlogov je tudi nedavni velik napredek  pri korekciji sferičnih
aberacij (Cs) leč mikroskopa. Glavni princip STEM metod slikanja je v
zasnovi detektorjev, ki zbirajo pretežno elektrone, sipane pod velikimi
koti, s čimer se bistveno zmanjša prispevek elastično sipanih elektronov k
sliki. Zato je mogoče intenziteto atomskih stolpcev povezati s kemijsko
sestavo, pri STEM slikanju z obročastim detektorjem v svetlem polju pa lahko
opazujemo tudi lahke elemente. V predavanju bo predstavljen pregled osnovnih
načel STEM mikroskopije. Predstavili bomo rezultate kvalitativne in
kvantitativne STEM analize različnih oksidnih keramičnih materialov z
nanoskopsko in atomsko ločljivostjo. Prav tako bomo govorili o nekaterih
izbranih rezultatih analiz z zajemanjem slik v (S)TEM s Cs korigiranim
elektronskim žarkom.

Predavanje bo v angleščini.

Lepo vabljeni!

 

 

*****

 

 

We invite you to the 4th Institute colloquium in the academic year 2013/14.
The colloquium will be held on Wednesday November 27, 2013 at 1 PM in the
main Institute lecture hall, Jamova 39, Ljubljana. To read the abstract
click  http://www.ijs.si/ijsw/Koledar_prireditev. Past colloquia are posted
on  http://videolectures.net/kolokviji_ijs.

 

********************************************

prof. dr. Miran Čeh

Nanostructured Materials, Centre for Electron Microscopy - Jožef Stefan
Institute, Ljubljana, Slovenia

 

Scanning Transmission Electron Microscopy: Applications in Materials Science

 

Various Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) imaging techniques
(ADF, HAADF, ABF) have become extremely useful for materials
characterization at the nano- and atomic scale, particularly due to recent
developments in the correction of spherical aberrations (Cs) of the (S)TEM¢s
microscope lenses. The main principle underpinning these imaging techniques
is that the detectors are designed such that they mostly collect high-angle
scattered electrons, thus minimizing the contribution of elastically
scattered electrons to the image. As a consequence, the intensity of the
atom columns can be correlated to the chemical composition, or in case of
annular bright-field STEM imaging, the light elements can be observed. This
lecture will present an overview on the basic principles of STEM imaging
techniques. The results of qualitative and quantitative STEM imaging at the
nano- and atomic scale will be presented and commented on for various oxide
ceramic materials. Selected results from probe Cs-corrected (S)TEM will also
be presented.

 

-------------- next part --------------
An HTML attachment was scrubbed...
URL: <http://mailman.ijs.si/pipermail/kolokvij-ijs/attachments/20131126/9d2283dc/attachment.html>