OPOMNIK: IJS KOLOKVIJ, sreda, 10. marec 2010, prof. dr. Andrew Bleloch

Andreja Berglez andreja.berglez at ijs.si
Tue Mar 9 17:24:47 CET 2010


Vabim vas na 8. predavanje iz sklopa "Kolokviji na IJS" v letu 2009/10, ki
bo v sredo, 10. marca 2010, ob 13. uri v Veliki predavalnici Instituta
>Jožef Stefan< na Jamovi cesti 39 v Ljubljani. Napovednik predavanja najdete
tudi na naslovu http://www.ijs.si/ijsw/Koledar_prireditev, posnetke
preteklih predavanj pa na http://videolectures.net/kolokviji_ijs. 

~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~

Prof. dr. Andrew Bleloch

University of Liverpool and SuperSTEM Laboratory 


Razumevanje materialov na atomarnem nivoju: Novo obdobje presevne
elektronske mikroskopije z uporabo korektorjev sferične aberacije leč (Cs)

 

Mikroskop je eno izmed najstarejših orodij znanstvenikov za povečanje dosega
naših čutil. Ker je svet okoli nas sestavljen iz atomov, nam mikroskopi, ki
lahko pokažejo, kateri atomi so na nekem mestu, podajajo celovit vpogled v
ta svet. Zaradi slabe kvalitete elektromagnetnih leč pa presevni elektronski
mikroskopi do sredine devetdesetih let niso mogli doseči ustrezne
ločljivosti. S korekcijo sferične aberacije leč Cs (danes tudi s korekcijo
kromatične aberacije Cc) pa se je v zadnjih 15 letih ločljivost elektronskih
mikroskopov povečala za bistveni dvakratni faktor, kar že omogoča rutinsko
strukturno in kemijsko karakterizacijo materialov na atomskem nivoju.
SuperSTEM Laboratory je bila prva nacionalna institucija v Veliki Britaniji,
ki je lahko ponudila znanstveni srenji preiskave materialov z elektronskimi
mikroskopi z uporabo Cs-korektorjev. V predavanju bodo predstavljeni izbrani
primeri uporabe elektronske Cs-mikroskopije (posnetki, spektroskopije) pri
preučevanju in reševanju problemov v materialih od toksičnosti nanodelcev na
osnovi ogljika prek nanodelcev za katalizo do strukturne in kemijske
karakterizacije napak v keramičnih perovskitih in mej v polprevodnikih.

Predavanje bo v angleškem jeziku.

Lepo vabljeni!

***

 

We would like to invite you to 8th lecture of the "Kolokvij na IJS" in the
school year 2009/10. The lecture will be held on Wednesday, March 10, 2010
at 1 pm at JSI main lecture hall, Jamova 39, Ljubljana. The abstract of the
lecture can be found on website:
<http://www.ijs.si/ijsw/Koledar_prireditev>
http://www.ijs.si/ijsw/Koledar_prireditev, the previous recorded lectures
can be found on website:  <http://videolectures.net/kolokviji_ijs>
http://videolectures.net/kolokviji_ijs. 

********************************************

Prof. dr. Andrew Bleloch

University of Liverpool and SuperSTEM Laboratory 

 

Understanding materials atom by atom: a new era of aberration corrected
electron microscopy

 

The microscope is one of the oldest tools used by scientists to extend the
reach of their senses.  Since the world around us, both natural and
synthetic, is made up of atoms, a microscope capable of showing us which
atoms are where, arguably, gives a complete characterisation of that world.
The electron microscope was, until the middle of the 1990's, hampered by the
poor quality of charged particle lenses.  15 years of spherical (and
latterly chromatic) aberration correction has since given a crucial
factor-of-two improvement in resolution so that routine atom by atom
characterisation of materials is now possible.  The SuperSTEM Laboratory in
the UK was the first national facility to offer aberration corrected
analysis of materials to the UK materials community. Case studies of the
application of aberration technology, using both imaging and spectrometry,
to a wide variety of materials problems ranging from the toxicity of
nano-scale carbon materials through catalyst nano-particles to defects in
perovskites and semiconductor interfaces will be presented.

 

We look forward to meeting you at the "Kolokvij na IJS"!

 

 

-------------- next part --------------
An HTML attachment was scrubbed...
URL: <http://mailman.ijs.si/pipermail/kolokvij-ijs/attachments/20100309/852c9b00/attachment.html>


More information about the kolokvij-ijs mailing list