[kolokvij-ijs] Sreda, 22. maj 2002, ob 13h , velika predavalnica In stituta "Jožef Stefan"

[Eva Tozon]

VABILO  na  KOLOKVIJ


V sredo, 22. maja 2002, ob 13. uri bo v veliki predavalnici Instituta >Jožef
Stefan<, Jamova 39,
predavanje z naslovom:

SLIKANJE MIKROMAGNETNIH SISTEMOV Z MIKROSKOPIJO NA MAGNETNO SILO



Predavatelj:
prof. dr. P. Chris HAMMEL
Nacionalni laboratorij Los Alamos, Los Alamos, ZDA


Mikroskopija snovi s pomočjo magnetno resonančne sile je popolnoma nova
metoda, ki kombinira prednosti tri-dimenzionalnega slikanja z magnetno
resonanco (MRI) z visoko ločljivostjo in resolucijo slikanja z atomsko silo
(Atomic Force microscopy ali AFM). V optimizirani verziji omogoča
ne-destruktivno in kemično specifično slikanje tudi pod površino. V
predavanju bodo prikazani principi in rezultati slikanja jedrskih ter
elektronskih spinov in tudi slikanje s feromagnetno resonanco. Prikazani
bodo tudi izgledi za prihodnost te nove metode v zelo različnih aplikacijah.

VLJUDNO VABLJENI!